集成電路X-Ray
    當(dāng)前位置:首頁 >> 產(chǎn)品中心 >> 集成電路X-Ray
    半導(dǎo)體微聚焦X射線檢測設(shè)備 AX8300S
    集成電路X-Ray
    半導(dǎo)體微聚焦X射線檢測設(shè)備 AX8300S
    ◆ 半導(dǎo)體專用離線X-ray檢測設(shè)備

    ◆ 70X幾何放大倍率

    ◆ 兼容2D、2.5D,可擴(kuò)展3D

    ◆ 解析度≤2μm
    半導(dǎo)體X-ray
    微焦點(diǎn)X射線檢測設(shè)備
    產(chǎn)品詳情
    產(chǎn)品參數(shù)

    1648259214213378.png

    產(chǎn)品說明  Product description


    日聯(lián)科技半導(dǎo)體X-ray

    日聯(lián)科技半導(dǎo)體X射線檢測設(shè)備 —— AX8300S

    具備高性能、高清晰度和高分辨率的X-Ray檢測設(shè)備,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、SMT、DIP、覆蓋IC、BGA、CSP、倒裝芯片、LED等檢測


    1648259136212126.png

    設(shè)備應(yīng)用  Application


    X射線檢測設(shè)備檢測產(chǎn)品內(nèi)部缺陷

    日聯(lián)科技微焦點(diǎn)X-ray AX8300S采用的是免維護(hù)、長壽命的封閉式微焦點(diǎn)X射線源,配置百萬級高分辨率FPD探測器,實(shí)現(xiàn)高清晰實(shí)時成像


    1648259193105512.png

    產(chǎn)品特點(diǎn)  Product Characteristics

    AX8300S_02.jpg

    1648259198330935.png

    客戶案例  Customer Case


    半導(dǎo)體X-ray

    日聯(lián)科技半導(dǎo)體X-ray設(shè)備AX8300S檢測系統(tǒng)擁有強(qiáng)大的圖像處理功能

    可自動測算金線、氣泡空洞比率,高速CNC巡航自動測算,半導(dǎo)體/BGA/IC/LED/IGBT檢測等眾多通用算法

    可拓展(實(shí)現(xiàn)批量生產(chǎn)數(shù)據(jù)存儲SPC過程控制,MES系統(tǒng)定制接入等功能


    1648259203199327.png

    安全保障  Safety Protection


    X射線的輻射危害及防護(hù)

    防輻射結(jié)構(gòu)-射線源無動作自保護(hù)功能-接地保護(hù)

                                                                






    AX8300S-01.jpg